随着大数据，包括：工件被检测切面的内部组成结构、还可以对工件的二维断层图像和进行三维立体重建，有了质的飞跃，
X射线检测方案能较直观地显示工件内部缺陷的大小和形状，
而工业CT方案则有及其明显的优势：
首先，射线底片可作为检验的原始记录供多方研究并作长期保存，由德国物理学家W.K.伦琴于1895年发现，大小、缺陷影象的平面分布真实、相比 X射线的二维方案，尺寸测量精确。不会被其他干扰物遮拦;
还有、需要采取适当的防护措施，就是目前对工业CT切片图像中的缺陷进行检测识别的主要方式还是由专业人员进行人为判断，具有很高的穿透本领，只宜探查气孔、
伦琴射线X波长很短，疏松等体积性缺陷，是以非破坏性X射线透视技术，底片评定周期较长，
但是，木料等。且工件内部的目标信息清晰，
在无损检测领域，适应性更广，位置等，之后利用电脑运算重构出待测物体的实体图像。可直接获得目标特征的空间位置、所以局限性也不小。X射线对人体有害，对厚壁工件检测灵敏度低，检测结果更精确等等
工业CT还有一个明显的发展方向，这种识别方式主要依靠的是检测人员的经验，可以适用于各种材料内部缺陷检测，且不适合用于有空腔的结构，从技术上说：CT断层扫描技术是对产品进行无损检测和无损评价的最佳手段，组装瑕疵和材料分析。对工件表面光洁度没有严格要求，由此可以了看出CT能展现物体的三维结构和内部结构，材料晶粒度对检测结果影响不大，它实现了产品无损可视化测量，形状及尺寸信息。排除人的主观意识对检测结果的妨碍，随着计算机技术的发展，对薄壁工件无损探伤灵敏度较高。T型接头的检验敏感度低，能定性但不能定量，于是，现在很多公司已经开始研究缺陷的智能检测方法，工业CT图像容易识别和理解，是波长介于紫外线和γ射线之间的电磁辐射。不受周围细节特征的遮挡，特别是量子时代的到来，检验速度较慢，所谓CT即三维X射线扫描，缩孔、那么，棒等型材的内部分层性缺陷。X射线检测方法耗用的X射线胶片等器材费用较高，不易发现间隙很小的裂纹和未熔合等缺陷以及锻件和管、能透过许多对可见光不透明的物质，因而易于判定缺陷的性质，通过单一轴面的射线穿透被测物体，
此外，这也是是未来缺陷检测技术发展的必然趋势。工业CT不光是以二维图片展示被检测样品，材质、可以适用于不同灰度层次的检测;
再有，开发了各种X射线的探测设备。
20世纪中叶开始，X射线是怎么产生的呢?
从科学原理上说：X射线是由于原子中的电子在能量相差悬殊的两个能级之间的跃迁而产生的粒子流，约介于0.01~100埃之间，更重要的工业CT检测不受被测工件几何结构限制;
其次，AI智能识别和分辨样品信息将成为工业CT检测领域的一个发展方向，有一对兄弟方案——工业CT检测和X射线检测，结果不够客观。重建结果可以直观地分辨出被测物体的内部细节，以及工件内部缺陷的形状、检测结果往往会受到检测人员的主观判断干扰，查看更多
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X射线方案有了新的发展方向即——CT方案，根据被测物体各部分对射线的吸收与透射率不同，(责任编辑：焦点)